01 / 01

JSM-IT710HR Schottky өрістік эмиссиялы SEM

JEOLМикроскопия

Премиум ғылыми жабдық

Official source

JSM-IT710HR Schottky өрістік эмиссиялы SEM

Нанометрлік кескін және талдау үшін жоғары айқындықтағы SEM.

Жоғары айқындық, төмен вакуум, Live 3D және EDS интеграциясына арналған JEOL Scientific SEM моделі.

Өндіруші: JEOL
Серия: JSM-IT HR Series
Модель: JSM-IT710HR
Тексерілген дереккөз: JEOL official Scientific product page

Зертханаңыз үшін конфигурацияны, жеткізу шарттарын және орнату талаптарын нақтылаймыз.

Өңірлік қолжетімділік

Uzbekistan
Сұрау бойынша

Kazakhstan
Сұрау бойынша

Өнім туралы

Барлық маңызды ақпарат бір жерде

Негізгі артықшылықтар

Automated SEM/EDS observation
Live 3D from multi-segment BSE detector
Low-vacuum secondary electron detector option
Designed for high-resolution imaging with easier operation.
Supports elemental analysis workflows through JEOL EDS integration.

Сипаттамалар

PerformanceResolution: High vacuum 1.0 nm at 20 kV; 3.0 nm at 1 kV
PerformanceAccelerating voltage: 0.5 to 30 kV
PerformanceDirect magnification: x5 to x600,000
AnalysisAnalysis performance: 3.0 nm at 15 kV, probe current 3 nA

Қолдану

— Semiconductor analysis
— Material characterization
— Failure analysis

Құжаттар

JEOL JSM-IT710HR product guide

PDF / Official PDF

Байланысты жабдық

Микроскопия

JSM-IT810 InTouchScope SEM

JSM-IT Series · JSM-IT810

InTouchScope SEM for routine imaging and microanalysis workflows.

Жабдықты ашу

Микроскопия

JXA-iHP200F өрістік эмиссиялы электрон-зонд микроанализатор

JXA-iHP Series · JXA-iHP200F

EPMA for quantitative elemental analysis and materials research.

Жабдықты ашу

Микроскопия

JIB-PS500i FIB-SEM

JIB Series · JIB-PS500i

Focused ion beam and SEM platform for advanced sample preparation and analysis.

Жабдықты ашу