Перейти к основному содержанию

Ctrl + K

Популярное оборудование

ОборудованиеJSM-IT710HR полевой эмиссионный SEM Schottky

Высокоразрешающий SEM для нанометровой визуализации и анализа.

ОборудованиеJEM-F200 многоцелевой электронный микроскоп

Field-emission TEM for high-throughput materials characterization.

ОборудованиеJXA-iHP200F полевой эмиссионный электронно-зондовый микроанализатор

EPMA for quantitative elemental analysis and materials research.

ОборудованиеJIB-PS500i FIB-SEM

Focused ion beam and SEM platform for advanced sample preparation and analysis.

ОборудованиеIB-19530CP полировщик поперечных сечений

Ion-beam cross-section preparation for SEM workflows.

Продукты

Категории

Категории оборудования

Выберите категорию и откройте подходящее оборудование в каталоге.

ПоверхностьПонимайте состав, химию и состояние поверхности.СпектроскопияМолекулярная и оптическая информация для исследований и контроля качества.МикроскопияВысокое разрешение и элементный контекст в одном процессе.ЧастицыКонтролируйте системы частиц от разбавленных суспензий до концентрированных образцов.ТеплофизикаИзмеряйте тепловые потоки, температуропроводность и термоэлектрическое поведение.ЭлектрохимияПроводите электрохимические и батарейные испытания с контролируемыми условиями.

Interactive Corporation

Открыть каталог оборудования

Производители

Производители

Выберите производителя, чтобы увидеть его оборудование в каталоге.

ADVANCE RIKOНаучное, лабораторное и промышленное оборудование из официальных источников производителя.

AS ONE CorporationНаучное, лабораторное и промышленное оборудование из официальных источников производителя.

HORIBAНаучное, лабораторное и промышленное оборудование из официальных источников производителя.

JASCOНаучное, лабораторное и промышленное оборудование из официальных источников производителя.

JEOLНаучное, лабораторное и промышленное оборудование из официальных источников производителя.

Meiden HokutoНаучное, лабораторное и промышленное оборудование из официальных источников производителя.

Interactive Corporation

Открыть каталог оборудования

Методы

Методы

Выберите аналитический метод и посмотрите подходящее оборудование.

SEMScanning Electron Microscopy method used by catalog equipment.FTIRFourier Transform Infrared Spectroscopy method used by catalog equipment.RamanRaman Spectroscopy method used by catalog equipment.Particle SizeParticle size analysis method used by catalog equipment.Thermal AnalysisThermal analysis method used by catalog equipment.Electrochemical AnalysisElectrochemical analysis method used by catalog equipment.

Interactive Corporation

Открыть каталог оборудования

Отрасли

Отрасли

Выберите отрасль и посмотрите оборудование для её рабочих процессов.

SemiconductorSemiconductor process, wafer, cleanroom and failure-analysis laboratories.Materials ScienceMaterials characterization, structure-property research and QC.BatteryBattery, fuel-cell and electrochemical energy research.Academic ResearchShared university and research-center laboratories.

Interactive Corporation

Открыть каталог оборудования

Проекты Новости О нас

Поверхность Спектроскопия Микроскопия Частицы Теплофизика Электрохимия Открыть весь раздел

ADVANCE RIKO AS ONE Corporation HORIBA JASCO JEOL Meiden Hokuto Открыть весь раздел

SEM FTIR Raman Particle Size Thermal Analysis Electrochemical Analysis Открыть весь раздел

Semiconductor Materials Science Battery Academic Research Открыть весь раздел

Проекты Новости О нас

Русский O'zbek Қазақша English

Начните вводить запрос для поиска

Loading page

Научное оборудование для Узбекистана и Казахстана с координацией IAC Japan.

Подробная документация предоставляется по запросу.

Оборудование

Все продукты Поверхность Спектроскопия Микроскопия Хроматография / MS Частицы

Разделы

Методы анализа Отрасли Производители Реализованные проекты

Компания

Новости База знаний Загрузки О IAC

Контакты

info@inter-active.co.jp

Головной офис IAC Japan

© 2026 Interactive Corporation. Все права защищены.

Оборудование/JEOL

01 / 01

Gather-X JED Series EDS система

JEOLМикроскопия

Премиальное научное оборудование

Gather-X JED Series EDS система

EDS microanalysis for SEM observation environments.

Official JEOL Gather-X product mapped to EDS, microanalysis and elemental-analysis workflows.

Производитель: JEOL
Серия: Gather-X / JED
Модель: Gather-X JED
Проверенный источник: JEOL official Scientific product page

Уточним конфигурацию, условия поставки и требования к установке для вашей лаборатории.

Доступность в регионе

Uzbekistan
По запросу

Kazakhstan
По запросу

О продукте

Всё важное — в одном месте

Ключевые преимущества

Energy-dispersive X-ray spectroscopy
SEM elemental analysis
Microanalysis support
Adds elemental context to SEM imaging workflows.

Характеристики

MethodAnalysis method: EDS

Применение

— Elemental analysis
— Failure analysis
— Quality control

Связанное оборудование

Микроскопия

JSM-IT710HR полевой эмиссионный SEM Schottky

JSM-IT HR Series · JSM-IT710HR

Высокоразрешающий SEM для нанометровой визуализации и анализа.

Открыть оборудование

Микроскопия

JSM-IT810 InTouchScope SEM

JSM-IT Series · JSM-IT810

InTouchScope SEM for routine imaging and microanalysis workflows.

Открыть оборудование