Ctrl + K
Ұсынылған жабдық
ЖабдықJSM-IT710HR Schottky өрістік эмиссиялы SEM
Нанометрлік кескін және талдау үшін жоғары айқындықтағы SEM.
ЖабдықJEM-F200 көп мақсатты электрондық микроскоп
Field-emission TEM for high-throughput materials characterization.
ЖабдықJXA-iHP200F өрістік эмиссиялы электрон-зонд микроанализатор
EPMA for quantitative elemental analysis and materials research.
ЖабдықJIB-PS500i FIB-SEM
Focused ion beam and SEM platform for advanced sample preparation and analysis.
ЖабдықIB-19530CP көлденең қима жылтыратқышы
Ion-beam cross-section preparation for SEM workflows.
Іздеу үшін жаза бастаңыз
