Негізгі мазмұнға өту

Ctrl + K

Ұсынылған жабдық

ЖабдықJSM-IT710HR Schottky өрістік эмиссиялы SEM

Нанометрлік кескін және талдау үшін жоғары айқындықтағы SEM.

ЖабдықJEM-F200 көп мақсатты электрондық микроскоп

Field-emission TEM for high-throughput materials characterization.

ЖабдықJXA-iHP200F өрістік эмиссиялы электрон-зонд микроанализатор

EPMA for quantitative elemental analysis and materials research.

ЖабдықJIB-PS500i FIB-SEM

Focused ion beam and SEM platform for advanced sample preparation and analysis.

ЖабдықIB-19530CP көлденең қима жылтыратқышы

Ion-beam cross-section preparation for SEM workflows.

Санаттар

Жабдық санаттары

Санатты таңдап, каталогтағы сәйкес жабдықты ашыңыз.

Беткі қабатҚұрамды, химияны және беткі күйді түсіну.СпектроскопияЗерттеу және сапа бақылауы үшін молекулалық және оптикалық ақпарат.МикроскопияЖоғары айқындықтағы кескін және элементтік контекст бір процесте.БөлшектерСұйық суспензиядан қою үлгіге дейін бөлшек жүйелерін бақылау.ТермиялықЖылу ағынын, диффузияны және термоэлектрлік қасиетті өлшеу.ЭлектрохимияБақыланатын жағдайда электрохимиялық және батарея сынақтарын жүргізу.

Interactive Corporation

Жабдық каталогын ашу

Брендтер

Өндірушілер

Өндірушілер

Өндірушіні таңдап, оның жабдығын каталогтан қараңыз.

ADVANCE RIKOӨндірушінің ресми дереккөздерінен ғылыми, зертханалық және өнеркәсіптік жабдық.

AS ONE CorporationӨндірушінің ресми дереккөздерінен ғылыми, зертханалық және өнеркәсіптік жабдық.

HORIBAӨндірушінің ресми дереккөздерінен ғылыми, зертханалық және өнеркәсіптік жабдық.

JASCOӨндірушінің ресми дереккөздерінен ғылыми, зертханалық және өнеркәсіптік жабдық.

JEOLӨндірушінің ресми дереккөздерінен ғылыми, зертханалық және өнеркәсіптік жабдық.

Meiden HokutoӨндірушінің ресми дереккөздерінен ғылыми, зертханалық және өнеркәсіптік жабдық.

Interactive Corporation

Жабдық каталогын ашу

Әдістер

Әдістер

Талдау әдісін таңдап, сәйкес жабдықты қараңыз.

SEMScanning Electron Microscopy method used by catalog equipment.FTIRFourier Transform Infrared Spectroscopy method used by catalog equipment.RamanRaman Spectroscopy method used by catalog equipment.Particle SizeParticle size analysis method used by catalog equipment.Thermal AnalysisThermal analysis method used by catalog equipment.Electrochemical AnalysisElectrochemical analysis method used by catalog equipment.

Interactive Corporation

Жабдық каталогын ашу

Салалар

Салалар

Саланы таңдап, оның жұмыс үдерістеріне арналған жабдықты қараңыз.

SemiconductorSemiconductor process, wafer, cleanroom and failure-analysis laboratories.Materials ScienceMaterials characterization, structure-property research and QC.BatteryBattery, fuel-cell and electrochemical energy research.Academic ResearchShared university and research-center laboratories.

Interactive Corporation

Жабдық каталогын ашу

Жобалар Жаңалықтар Туралы

Беткі қабат Спектроскопия Микроскопия Бөлшектер Термиялық Электрохимия Толық бөлімді ашу

ADVANCE RIKO AS ONE Corporation HORIBA JASCO JEOL Meiden Hokuto Толық бөлімді ашу

SEM FTIR Raman Particle Size Thermal Analysis Electrochemical Analysis Толық бөлімді ашу

Semiconductor Materials Science Battery Academic Research Толық бөлімді ашу

Жобалар Жаңалықтар Туралы

Русский O'zbek Қазақша English

Іздеу үшін жаза бастаңыз

Loading page

IAC Japan үйлестіруімен Өзбекстан мен Қазақстанға арналған ғылыми жабдық.

Толық өнім құжаттамасы сұрау бойынша беріледі.

Жабдық

Барлық өнімдер Беткі қабат Спектроскопия Микроскопия Хроматография / MS Бөлшектер

Бөлімдер

Талдау әдістері Салалар Өндірушілер Инсталляциялар

Компания

Жаңалықтар Білім базасы Жүктемелер IAC туралы

Байланыс

info@inter-active.co.jp

IAC Japan бас кеңсесі

© 2026 Interactive Corporation. Барлық құқықтар қорғалған.

Каталог

Санат, әдіс, бренд, серия, модель және тексерілген дереккөз бойынша құрылымдалған жабдық.

Салыстыруға, іздеуге және техникалық кеңеске арналған таңдамалы жабдық каталогы.

7 нәтиже

нәтиже

Микроскопия

JEM-F200 көп мақсатты электрондық микроскоп

JEM-F Series · JEM-F200

Field-emission TEM for high-throughput materials characterization.

Жабдықты ашу

Микроскопия

JSM-IT710HR Schottky өрістік эмиссиялы SEM

JSM-IT HR Series · JSM-IT710HR

Нанометрлік кескін және талдау үшін жоғары айқындықтағы SEM.

Жабдықты ашу

Микроскопия

JXA-iHP200F өрістік эмиссиялы электрон-зонд микроанализатор

JXA-iHP Series · JXA-iHP200F

EPMA for quantitative elemental analysis and materials research.

Жабдықты ашу

Микроскопия

Gather-X JED Series EDS жүйесі

Gather-X / JED · Gather-X JED

EDS microanalysis for SEM observation environments.

Жабдықты ашу

Микроскопия

JCM-7000 NeoScope үстелдік SEM

NeoScope · JCM-7000

Compact SEM for routine microscopy and quality-control work.

Жабдықты ашу

Микроскопия

JIB-PS500i FIB-SEM

JIB Series · JIB-PS500i

Focused ion beam and SEM platform for advanced sample preparation and analysis.

Жабдықты ашу